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- 基本配置及參數(shù)
- 儀器介紹
近代科學技術的許多學科對各種薄膜的研究和應用日益廣泛,因此,測得薄膜厚度和光學參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際工作中,常常使用橢圓偏振法來進行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高,并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。
本產(chǎn)品為手動方式調節(jié)儀器,測量薄膜的厚度和光學參數(shù)。清晰的展示了橢圓偏振測厚儀的各個部件的結構功能,調節(jié)方法,使用戶可詳細的了解橢圓儀的原理結構,并培養(yǎng)其動手操作能力。
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